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產(chǎn)品分類 / PRODUCT
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描述：hast壽命試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test），也叫做快速老化試驗(yàn)箱，是一種常用的電子元器件可靠性測(cè)試設(shè)備。它主要用于模擬高溫高濕環(huán)境下的加速老化條件，以評(píng)估電子元器件在惡劣環(huán)境下的可靠性和壽命。在HAST壽命試驗(yàn)中，樣品通常放置在密封的試驗(yàn)室中，具有溫度和濕度控制功能。試驗(yàn)箱還可能包括振動(dòng)或機(jī)械應(yīng)力等其他環(huán)境因素，以更準(zhǔn)確地模擬真實(shí)工作環(huán)境。
產(chǎn)品型號(hào)：DX-HAST350C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-11-19訪問量：748
產(chǎn)品介紹/ PRODUCT PRESENTATION| 品牌 | 德祥儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合 | 溫度范圍 | +100℃～+132℃ |
| 濕度范圍 | 70%~100% | 濕度控制穩(wěn)定度? | ±3%RH |
| 使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) | 壓力波動(dòng)均勻度? | ±0.1Kg |
hast高壓加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)：
1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。
2)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3)門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
4)試驗(yàn)前排冷空氣；試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5)超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).
6)水位保護(hù)，透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
7)tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg.
8)二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.
9)安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .
10)偏壓測(cè)試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）
11)USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.
hast蒸汽老化試驗(yàn)箱用途：
加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。
hast壽命試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test），也叫做快速老化試驗(yàn)箱，是一種常用的電子元器件可靠性測(cè)試設(shè)備。它主要用于模擬高溫高濕環(huán)境下的加速老化條件，以評(píng)估電子元器件在環(huán)境下的可靠性和壽命。
hast壽命試驗(yàn)箱采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品置于高溫高濕環(huán)境中，并施加一定的電氣應(yīng)力，以模擬真實(shí)環(huán)境中的潮濕條件。通過加速老化過程，可以在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)觀察到可能會(huì)發(fā)生的故障和退化現(xiàn)象，從而提前檢測(cè)和改善電子元器件的可靠性。
在HAST壽命試驗(yàn)中，樣品通常放置在密封的試驗(yàn)室中，具有溫度和濕度控制功能。試驗(yàn)箱還可能包括振動(dòng)或機(jī)械應(yīng)力等其他環(huán)境因素，以更準(zhǔn)確地模擬真實(shí)工作環(huán)境。
HAST壽命試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子元器件、半導(dǎo)體芯片、集成電路等領(lǐng)域的可靠性測(cè)試中。通過該設(shè)備，制造商可以評(píng)估產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的性能和壽命特性，優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，以滿足市場(chǎng)需求和用戶期望。
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